LEADERG AI Cluster 人工智慧叢集伺服器 (推論農場,可以同時使用 NVIDIA GPU, Intel VPU, Intel CPU 以及其他運算加速裝置)
可以同時使用 NVIDIA GPU, Intel VPU, Intel CPU 以及其他運算加速裝置。

LEADERG A23 - AI AOI 二次分析解決方案
透過 OpenR8 AI 圖控軟體及深度學習專用電腦,大幅降低原有機台誤判率。針對複雜影像,誤放率 (under kill rate) 最低可以降至 0 %,誤殺率 (over kill rate) 最低可以降至 0.2 %以下。

LEADERG A1 - IC 外觀 AOI 檢測機
應用於半導體製程品質檢測的「最終外觀目驗(Final Visual Inspection, FVI)」,為您進行 IC 封測出貨前外觀瑕疵上的最後把關,作為品質良率的最後一道防線。

LEADERG A16 - 2017年業界第一台 AI AOI 人工智慧自動光學檢測機 (銅箔黏紙檢查)
AI AOI 人工智慧自動光學檢測機,配備高解析度顯微鏡、高精度大面積真空吸盤,透過深度學習運算技術,檢測速度及正確率超過一般作業員。

LEADERG A20 - 深度學習影像分析解決方案
解析度及速度為 1920x1080@30fps 。本解決方案可應用於:電視新聞即時分析、生產線即時瑕疵檢測、即時門禁監視系統、先進駕駛輔助系統及自動駕駛車。

LEADERG A21 - 桌上型 AI AOI 解決方案
桌上型 AI AOI ,省空間,顯微鏡倍率40X~800X,可搭配多種光源。深度學習影像分析,零誤放率、超低誤殺率、一秒檢測30張以上的影像。

LEADERG A6 - SAT 超音波影像分析伺服器
應用於半導體製程品質檢測的「超音波掃描(SAT)檢測」階段,為您把關可能會出現在 IC 封膠內部不同位置的脫層(Delamination)、裂縫(Crack)、氣洞(Void)及其他黏著缺陷,並以雲端運算技術大幅提升 SAT 機台分析效能。

LEADERG A5 - IC 印字 AOI 檢查機
應用於晶圓、 IC 晶片、其他半導體製程的「印字或蓋印(Marking)檢測」階段,為您進行印製之字體出現印製不清、缺字、掉漆、筆畫斷線等問題的精確把關。

LEADERG A8 - 生產機台 AOI 模組
應用於半導體製程品質檢測的「剪切成型(Trim/Form)檢測」階段,為您進行彎壓成形之 IC 導腳出現膠體大小不一、沖切不對稱、腳數或腳彎有落差、外引腳損傷等問題的精確把關。
