LEADERG AOI 自動光學檢測設備
私有雲邊緣運算架構,可應用於半導體晶圓、封測、 IC 晶片、醫療、病理影像、放射影像、及其他產業的影像檢測。
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立達軟體科技成功開發自動光學檢測 (AOI) 設備,私有雲邊緣運算架構,可應用於半導體晶圓、封測、 IC 晶片,醫療、病理影像、放射影像、以及其他產業的影像檢測。
軟硬體規格可客製,歡迎來電或來信洽詢。
針對工廠影像檢測需求,亦可代為檢測。
- 採用高速攝影機及獨家即時控制技術,可於機器手臂運動中取像,檢測速度 ( UPH ) 較其他機種快兩倍以上。
- 採用獨家雲端運算技術,運算能力強,檢測效果 ( underkill rate and overkill rate ) 較其他機種好。
- 採用獨家巨量資料處理技術,即時分析良率變化,找出原因。
推出以下 AOI 機種(點擊名稱,可連結到各 AOI 機台及模組介紹):
LEADERG AOI-1 for Final Visual
LEADERG AOI-8 for YAMADA Trim & Form System
LEADERG AOI-9 for Wafer Cassette (FOSB)