LEADERG AOI 自動光學檢測設備

私有雲邊緣運算架構,可應用於半導體晶圓、封測、 IC 晶片、醫療、病理影像、放射影像、及其他產業的影像檢測。

 

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立達軟體科技成功開發自動光學檢測 (AOI) 設備,私有雲邊緣運算架構,可應用於半導體晶圓、封測、 IC 晶片,醫療、病理影像、放射影像、以及其他產業的影像檢測。

 

軟硬體規格可客製,歡迎來電或來信洽詢。

 

針對工廠影像檢測需求,亦可代為檢測。

 

LEADERG A2 for Die Saw AOI.png

 

  • 採用高速攝影機及獨家即時控制技術,可於機器手臂運動中取像,檢測速度 ( UPH ) 較其他機種快兩倍以上。

 

  • 採用獨家雲端運算技術,運算能力強,檢測效果 ( underkill rate and overkill rate ) 較其他機種好。

 

  • 採用獨家巨量資料處理技術,即時分析良率變化,找出原因。

 

 

推出以下 AOI 機種(點擊名稱,可連結到各 AOI 機台及模組介紹):

 

LEADERG AOI-0 桌上型檢查機

 

LEADERG AOI-1 for Final Visual

 

LEADERG AOI-2 for Die Saw

 

LEADERG AOI-3 for Die Bond

 

LEADERG AOI-4 for Molding

 

LEADERG AOI-5 for Marking

 

LEADERG AOI-6 for SAT

 

LEADERG AOI-8 for YAMADA Trim & Form System

 

LEADERG AOI-9 for Wafer Cassette (FOSB)

 

LEADERG AOI-15 for MEMS

 

LEADERG AOI-16 銅箔檢測機

 

 

 

AOI on Private Cloud-5.png

 

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https://tw.leaderg.com/article/index?sn=11056

延伸閱讀

1.
AOI 檢測的 AI 化與雲端化

2.
LEADERG AOI-16 - AI AOI 銅箔黏紙檢查機

3.
LEADERG AOI-1 - IC 外觀 AI AOI 檢測機

4.
LEADERG AOI-15 - MEMS 晶圓 AI AOI 檢測機

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