立達雲端 AI AOI 自動光學檢測設備
您正在尋找優質的機器視覺解決方案嗎?立達軟體科技提供各種機器視覺軟硬體解決方案及客製化機台,支援最新人工智慧演算法及大數據分析。
立達軟體科技成功開發雲端自動光學檢測 (cloud-based AOI) 設備,私有雲邊緣運算架構,可應用於半導體晶圓、封測、 IC 晶片,以及其他產業的品質檢測。
- 採用高速攝影機及獨家即時控制技術,可於機器手臂運動中取像,檢測速度 ( UPH ) 較其他機種快兩倍以上。
- 採用獨家雲端運算技術,運算能力強,檢測效果 ( underkill rate and overkill rate ) 較其他機種好。
- 採用獨家巨量資料處理技術,即時分析良率變化,找出原因。
推出以下 AOI 機種(點擊名稱,可連結到各 AOI 機台及模組介紹):
LEADERG A8 for YAMADA Trim & Form System
LEADERG A9 for Wafer Cassette (FOSB)
LEADERG Cloud-Based AI AOI Architecture
立達軟體科技於 2015 SEMICON 半導體展,發表「雲端 AOI 自動光學檢測檢測設備」。 (HD 720P)
立達軟體科技亦提供付費 AI AOI 設備技轉方案,提供完整圖面及原始碼,辨識正確度超高, underkill rate 及 overkill rate 超低。
如果您對 LEADERG AI AOI 機台及模組有興趣,歡迎與我們聯絡。
聯絡電話: 02-2784-9788
電子郵件: leaderg@leaderg.com