立達雲端 AI AOI 自動光學檢測設備

您正在尋找優質的機器視覺解決方案嗎？立達軟體科技提供各種機器視覺軟硬體解決方案及客製化機台，支援最新人工智慧演算法及大數據分析。

 

立達軟體科技成功開發雲端自動光學檢測 (cloud-based AOI) 設備，私有雲邊緣運算架構，可應用於半導體晶圓、封測、 IC 晶片，以及其他產業的品質檢測。

 

LEADERG A2 for Die Saw AOI.png

 

  • 採用高速攝影機及獨家即時控制技術，可於機器手臂運動中取像，檢測速度 ( UPH ) 較其他機種快兩倍以上。

 

  • 採用獨家雲端運算技術，運算能力強，檢測效果 ( underkill rate and overkill rate ) 較其他機種好。

 

  • 採用獨家巨量資料處理技術，即時分析良率變化，找出原因。

 

 

推出以下 AOI 機種（點擊名稱，可連結到各 AOI 機台及模組介紹）：

 

LEADERG A0 桌上型檢查機

 

LEADERG A1 for Final Visual

 

LEADERG A2 for Die Saw

 

LEADERG A3 for Die Bond 

 

LEADERG A4 for Molding

 

LEADERG A5 for Marking

 

LEADERG A6 for SAT

 

LEADERG A8 for YAMADA Trim & Form System

 

LEADERG A9 for Wafer Cassette (FOSB) 

 

LEADERG A15 for MEMS

 

LEADERG A16 銅箔檢測機

 

 

 

 

LEADERG Cloud-Based AI AOI Architecture-v3.0-20180530.png

LEADERG Cloud-Based AI AOI Architecture

 

 

 

立達軟體科技於 2015 SEMICON 半導體展，發表「雲端 AOI 自動光學檢測檢測設備」。 （HD 720P）

 

 

 

 

 

立達軟體科技亦提供付費 AI AOI 設備技轉方案，提供完整圖面及原始碼，辨識正確度超高， underkill rate 及 overkill rate 超低。

 

如果您對 LEADERG AI AOI 機台及模組有興趣，歡迎與我們聯絡。

 

 

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電子郵件： leaderg@leaderg.com

 

 

 


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