立達雲端 AOI 自動光學檢測設備
您正在尋找優質的機器視覺解決方案嗎？立達軟體科技提供各種機器視覺軟硬體解決方案及客製化機台，支援最新人工智慧演算法及大數據分析。
立達軟體科技成功開發雲端自動光學檢測 (cloud-based AOI) 設備，私有雲邊緣運算架構，可應用於半導體晶圓、封測、 IC 晶片，以及其他產業的品質檢測。
- 採用高速攝影機及獨家即時控制技術，可於機器手臂運動中取像，檢測速度 ( UPH ) 較其他機種快兩倍以上。
- 採用獨家雲端運算技術，運算能力強，檢測效果 ( underkill rate and overkill rate ) 較其他機種好。
- 採用獨家巨量資料處理技術，即時分析良率變化，找出原因。
推出以下 AOI 機種（點擊名稱，可連結到各 AOI 機台及模組介紹）：
LEADERG A8 for YAMADA Trim & Form System
LEADERG A9 for Wafer Cassette (FOSB)
LEADERG Cloud-Based AI AOI Architecture (Powerd by Dell EMC)
立達軟體科技於 2015 SEMICON 半導體展，發表「雲端 AOI 自動光學檢測檢測設備」。 （HD 720P）
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