您正在尋找輕便、快速、檢測效果好的多功能泛用 AOI 檢測機台,給中小型企業辦公室或學校實驗室使用嗎?LEADERG A0 是您的最佳選擇!
AI Ready 高速 AOI 檢測機,配備高解析度顯微鏡、高精度大面積真空吸盤,透過深度學習運算技術,檢測速度及正確率超過一般作業員。
解析度及速度為 1920x1080@30fps 。本解決方案可應用於:電視新聞即時分析、生產線即時瑕疵檢測、即時門禁監視系統、先進駕駛輔助系統及自動駕駛車。
桌上型 AI AOI ,省空間,顯微鏡倍率40X~800X,可搭配多種光源。深度學習影像分析,零誤放率、超低誤殺率、一秒檢測30張以上的影像。
晶圓包裝盒 (FOSB) 出貨前拍照記錄及檢查。
應用於半導體製程品質檢測的晶圓切割(Die Saw)檢測,為您進行晶圓切割後晶粒(die)邊緣歪斜、崩缺、破損等問題的精確把關。
應用於半導體製程品質檢測的「超音波掃描(SAT)檢測」階段,為您把關可能會出現在 IC 封膠內部不同位置的脫層(Delamination)、裂縫(Crack)、氣洞(Void)及其他黏著缺陷,並以雲端運算技術大幅提升 SAT 機台分析效能。
應用於晶圓、 IC 晶片、其他半導體製程的「印字或蓋印(Marking)檢測」階段,為您進行印製之字體出現印製不清、缺字、掉漆、筆畫斷線等問題的精確把關。
應用於半導體製程品質檢測的「封膠(Molding)檢測」階段,為您進行樹脂充填後出現氣洞、崩缺、刮傷等問題的精確把關。
使用結構光,可以量測多種產品的平面度。
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