傳統自動光學檢測 (AOI) 的精確度已遭遇瓶頸,漏殺率 (Under Kill) 及過殺率 (Over Kill) 過高,導入 AI 技術可以大幅降低漏殺率及過殺率到十分之一以下。 遇到需要零漏殺率的應用,通常會使用兩個不同的 AI 演算法搭配分析,來確保零漏殺率。
工廠生產排程建議用窮舉法(暴力法)找出全域最佳解。如果排程複雜度高,例如:64核心電腦在一小時內無法用窮舉法(暴力法)找出全域最佳解,才考慮用基因演算法在短時間內找出局部最佳解。
比較 InceptionV3-CAM, YOLOv4, Efficient Det, Mask R-CNN, U-Net 等演算法。