使用結構光,可以量測多種產品的平面度。
應用於半導體製程品質檢測的「剪切成型(Trim/Form)檢測」階段,為您進行彎壓成形之 IC 導腳出現膠體大小不一、沖切不對稱、腳數或腳彎有落差、外引腳損傷等問題的精確把關。
支援 2D 及 3D 弧面點膠、支援 CCD 機器視覺進行精密點膠。
一心兩葉影像定位演算法,提供給採茶機器人使用
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