立達雲端自動光學檢測 AOI 服務:LEADERG A6 for SAT

您正在尋找高速且準確的 AOI 分析程式給 SAT 檢驗站使用嗎?您正為了人工誤判、分析速度慢、檢測效果差而煩惱嗎? LEADERG A6 是您的最佳選擇! :)

 

 

 

 

製程任務:

 

所謂的超音波掃描檢測,此製程的目的是在 IC 封裝完成之後,以非破壞性方式,運用超音波穿過不同密度物質時,其能量及反射速率會有所不同的這項特性,在超音波掃瞄(Scanning Acoustic Tomography, SAT)機台上以純水作為介質,將超音波訊號傳導至已封裝完成的待測 IC上,並以該訊號穿透或反射的結果通過特殊檢測軟體組成影像,以檢測該 IC 的內部結構組成是否出現變異或瑕疵。

 

在此過程中,您需要 LEADERG A6 for SAT 自動光學檢測 AOI 服務,為您把關可能會出現在 IC 封膠內部不同位置的脫層(Delamination)、裂縫(Crack)、氣洞(Void)及其他黏著缺陷,並以雲端運算技術幫您大幅提升 SAT 機台分析效能!

 

 

 

過去您僅有的選擇:

 

1.  採人工目視檢測:

 

-  人眼辨識能力有限,長久作業且易產生視覺疲勞

-  作業員主觀認定瑕疵與否,差異性高

-  漏判(underkill)機率高

-  耗費大量人力、時間、管理與金錢成本

 

2.  採用其他自動光學 AOI 系統檢測:

 

-  市面產品不符巨量資料處理升級需求

-  針對檢測結果,市面尚無「雲端」分析解決方案

-  單機分析程式售價高昂

 

 

 

 

 

 

立達雲端自動光學檢測 AOI 服務

LEADERG A6 for SAT 產品優勢與特色:

 

 

立達雲端自動光學檢測 AOI 分析程式 LEADERG A6 for SAT,適用於擴充、提升 SAT 超音波掃描檢測機台的檢測效能。

 

 

技術創新

 

1. 透過「雲端運算」提升影像運算能力!

 

目前「國內外均無」使用雲端影像運算技術的 AOI 服務。

 

 

2. 透過「雲端儲存」提供大數據分析能力!

 

目前「國內外均無」使用雲端大數據分析技術的 AOI 服務。

 

 

 

硬體配備

 

本系統的硬體部分由 2 台 PC 伺服器組成,其中一台作為備份(back-up)功能。

 

 

 

產品功能架構

 

LEADERG A6 for SAT 產品功能架構圖.png

 

 

1. 運用雲端運算技術,協助分析超音波 SAT 掃描影像,大幅提升原機台分析效能。

 

2. 詳細報告與 SAT 影像會經由網頁上傳,儲存在 LEADERG A6 for SAT 分析伺服器上。

 

3. 影像的分析摘要,則會藉由乙太網路(Ethernet)傳送到 IT 伺服器上。

 

 

 

軟體功能

 

1. 本系統可即時分析 SAT 影像,利用網頁產出分析數據報告,並可依需求自行設定檢測參數 recipe。

 

2. 系統內的 PC 伺服器可同時支援「多台」SAT 機台,同步分析影像。

 

3. 系統內的 PC 伺服器可將分析數據摘要自動上傳至 IT 伺服器,輕鬆連接原本的資訊系統。

 

 

檢測項目:

 

Package Crack

封裝裂縫

Chip Crack

晶片裂痕

Delamination

脫層

Void

氣洞

 

 

 

 

 

 

 

 

 

誠摯歡迎您與我們聯絡,讓我們為您服務,

量身打造高品質的新一代自動化生產線檢測系統!  

 

電子郵件: leaderg@leaderg.com

 

電話:(02) 2784-9788 轉 8001

 

傳真:(02) 8192-7152

 

台北辦公室地址:台北市大安區信義路三段153號6樓

 

林口工廠地址:桃園市龜山區科技一路32號4樓 (華亞科技園區)

 

台南辦公室地址:台南市善化區中山路349號7樓

 

 

 


延伸閱讀

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